測(cè)頭類型 | Leeb250 | Leeb251 | |
測(cè)頭類型 | F1 | N1 | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 0~1250μm | ||
低限分辨率 | 1μm | ||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1） | |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3%)H+1] | ||
測(cè)試條件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 | |
zui小面積直徑mm | Φ7 | ||
基本臨界厚度mm | 0.5 | ||
工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ | |
濕度 | 20%~90% | ||
電源 | AAA型堿性電池1.5V四節(jié) | ||
外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主機(jī)） | ||
重量 | 120g | ||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池 | ||
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